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- 半導體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數(shù)/電導率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試
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- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗箱
- 普源RIGOL/致遠ZLG/鼎陽SIGLENT
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- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
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- 紅外熱像儀
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- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 艾卡IKA
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 賓德BINDER試驗箱
- 博勒飛Brookfield
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
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- 晶圓、芯片、屏幕Particle
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- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學測試方案
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- 長盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測試
- 永磁軟磁磁通量測試
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